Fortæl dine venner om denne vare:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition
Peter Pichler
Pris
NOK 4.429
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 12. - 19. jun.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Findes også som:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 1. november 2012 |
| ISBN13 | 9783709172049 |
| Forlag | Springer Verlag GmbH |
| Antal sider | 554 |
| Mål | 178 × 254 × 30 mm · 1,01 kg |
| Sprog | Engelsk |
Vis alle
Mere med Peter Pichler
Se alt med Peter Pichler ( f.eks. Bog , Hardcover bog og Paperback Bog )