
Fortæl dine venner om denne vare:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics 2004 edition
Peter Pichler
Pris
A$ 674,36
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 12. - 19. jun.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Findes også som:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics 2004 edition
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
Udgivet | 2. juni 2004 |
ISBN13 | 9783211206874 |
Forlag | Springer Verlag GmbH |
Antal sider | 554 |
Mål | 178 × 254 × 31 mm · 1,18 kg |
Sprog | Engelsk Tysk |
Vis alle
Mere med Peter Pichler
Se alt med Peter Pichler ( f.eks. Bog , Hardcover bog og Paperback Bog )